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半导体探针在IC测试治具中起到什么作用


  半导体探针在IC测试治具中起到什么作用
 1、半导体探针在IC测试治具中起到增强治具的耐用度
半导体探针的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大,所以能获得更长的寿命。
 2、不间断电接触设计
行程超过有效行程(2/3行程)或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗,消除因探针造成的假性开路造成的误判。
 3、提高了测试精度
IC测试针因为更加精细,通常直径都是0.58mm以下,总长不超过6毫米,所以能够达到同规格产品更好的精准度。
  IC测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列最高频率可达2000MHz。
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